我院购置的场发射透射电子显微镜Tecnai G2 F20（200KV）安装完毕，现开始预约测样。

该仪器为我院教师集资购置，7月20日到货，8月1日开箱安装，9月中旬调试完成，各项技术指标达到采购要求。

经过近10天的培训及管理人员的操作练习，初步可承接预约测样。望相互转告，并请对近期测样效果给予理解。

仪器简介：

Tecnai G2 F20将各种透射电镜技术，包括TEM、HR-TEM、STEM、电子衍射、EDS、三维重构技术集于一身，配合相应的制样系统，可实现对不同材料，如陶瓷、金属等有机或无机纳米材料的表征。Tecnai G2 F20完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。

价格：600多万人民币

仪器技术参数：

1.信息分辨率极限

U-TWIN 0.12 nm; S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm

2.点分辨率

U-TWIN 0.19 nm ; S-TWIN 0.24 nm ;

X-TWIN 0.25 nm ; TWIN 0.27 nm

3.加速电压20-200 kV，连续可调

4.电子束能量色散<0 .7 ev

5.最大束流>100 nA，1nm束斑最大束流>0.5 nA.

6.样品最大倾角S-TWIN +/- 40^o ; TWIN +/- 70°

Tomography样品杆+/- 70^o

7. EDS立体角

X-TWIN 0.3 sr；S-TWIN/U-TWIN 0.13 sr

仪器使用要求：

1. 提前制备好的样品必须放置在干燥器的铜网盒里，确保样品清洁干燥，使用前的镊子与螺丝刀要用酒精清洗干净

2. 磁性样品必须进行预处理，确保铜网上没有裸露的磁性颗粒

3. 用于常规测试的样品大小或厚度不能超出200 nm，高分辨与电子衍射样品不能超出50 nm。超出厚度的样品需要前处理（如离子减薄、超薄切片等）

4. 用于扫描透射或能谱分析或三维重构测试的样品确保对电子束不敏感，即在电子束作用下不漂移