报告一：XPS的应用和数据处理

我校大型仪器平台配备了英国Kratos公司（岛津集团）的成像型XPS——AXIS Ultra DLD。XPS与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，可以用于固体表面元素成分及价态的面分布和深度剖析。XPS在新材料开发、功能薄膜的机理研究、纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、催化剂研究与失效分析等方面具有不可替代的作用。

本次报告首先介绍XPS在我院相关科研方向上的可能应用，结合分析实例，着重对XPS数据处理的理论和技巧进行梳理，并探讨XPS与其他微束分析手段结合的可能性，帮助大家获得更准确的结果。欢迎前来参与讨论！

报告人：龚沿东研究员

2005年6月加入岛津，负责中国大学科研用户的应用支持工作。在电子探针（EPMA）和X射线光电子能谱（XPS）最新技术发展和应用方面拥有广泛的经验。毕业于清华大学物理系，后进入中科院金属研究所工作，1999年起担任金属研究所分析测试部主任。相继在英国国家物理实验室（National Physical Laboratory）、美国圣母大学（University of Notre Dame）进行表面科学研究工作。1995年起至今担任全国微束分析标委会委员、表面分技术委员会委员，在专业期刊上发表多篇与XPS和EPMA相关的学术论文。

报告二：调频型原子力显微镜（FM-AFM）推动表界面领域研究

相比传统的AFM（调幅式，AM-AFM），FM-AFM具备超低噪声水平和更好的分辨率（尤其在液体环境中），被认为将极大推动表界面领域的研究。

岛津推出全球首台调频型原子力显微镜（FM-AFM）——SPM-8000FM。本次报告将针对传统AFM力所不及的领域，首次披露由SPM-8000FM获得的一系列前沿研究成果。同时希望通过与相关领域的专家的交流，进一步发掘调频AFM——SPM-8000FM的潜在应用领域，共同推动表界面科学的发展。

报告人：张玉琪应用工程师

岛津公司资深应用分析专家，毕业于日本金沢大学，研究课题为最前沿的调频原子力显微镜（FM-AFM），熟悉AFM和STM各种分析模式，曾多次在国际会议上发布研究成果。现为岛津大型仪器市场部AFM机种负责人，负责国内用户的应用培训，并参与岛津FM-AFM的新技术研发工作。

时间：1668会议室

地点：2014年9月17日下午14:30~17:00

实验中心

2014.09.11